共用設備基盤センター Center for Coordination of Research Facilities (CCRF)

分析機器リスト

所属機器

装置名 機種
高性能X線回折装置 RINT2500HR/PC(理学電機) ガイガーフレックス RAD-γVA(理学電機) ガイガーフレックス SX-3063P(理学電機)
蛍光X線分析装置 RIX3000(理学電機)
結晶構造X線解析システム RINT2100/PC(理学電機)
複合X線構造解析装置 RASA-7R, R-AXISIV, R-EXAFS(理学電機)
粉末X線回折装置 Ultima IV(理学電機)
軟X線照射装置 M-150WE(SOFTEX)
波長分散型電子プローブマイクロアナライザー JXA-8600SX(日本電子)
温度可変・線顕赤外分光システム Spectrum GX, AutoIMAGE(Perkin Elmer)
高分解能質量分析システム JMS-T100GCV, JMS-T100LP(日本電子) LTQ Orbitrap XL(Thermo Fischer Scientific)
誘導結合プラズマ質量分析計 HP4500(アジレント)
高精密ガスクロマトグラフ質量分析計 ITQ700-NR(Thermo Fischer Scientific) Exactive-NR(Thermo Fischer Scientific)
表面電離型質量分析計 MAT262(サーモクエスト)
核磁気共鳴微量構造解析システム NMR System700型, 400-MR型(Varian)
電子スピン共鳴装置 JES-FA200(Jeol Resonance)
透過型分析電子顕微鏡 JEM-2010, JEM-200CX(日本電子)
微細加工半導体特性評価システム セミオートマティックステーション R6172(カスケードマイクロテック)
電子線マイクロアナライザー EPMA-1610(島津)
ナノフローLC-イオントラップ型質量分析計 110 LC/MSD Trap XCT(Aglinent Technologies)
元素分析装置 マイクロコーダー JM10(ジェイ・サイエンス・ラボ)
卓上型X線回折装置 D2 Phaser(Bruker)

高性能X線回折装置

ガイガーフレックス RAD-γVA(理学電機)

設置場所 工学部 B棟 X線回折装置室 (3階)
対象試料 金属, 合金, セラミックス, 地質鉱物, 高分子材料などの固体試料
性能 最大定格出力60 kV-200 mA, ターゲット回転数2500rpm, 試料高温装置,焦点0.5×10 mm, 精度0.02度, 2測角 -3度~+145度, 検出器 シンチレーションカウンター, ターゲット Cu
利用条件等 空気中で不安定な試料については、予めご相談下さい。 粉末の試料は粒度を細かくして下さい。 測定中に試料がこぼれないように試料板に充填して下さい。
担当者  岩船勝敏

理学電機, ガイガーフレックス SX-3063P

設置場所 工学部 B棟 蛍光X線室 (4階)
対象試料 鉄鋼, 非金属, セラミックス, 粘土, 鉱石, 高分子材料など
性能 最大定格出力60 kV-80 mA, 蛍光X線管 タングステン, クロム 結晶系 – LiF, EDDT, ADP, Ge, RAP ゴニオ駆動部 スロースキャンスピード 1/4度, 1度, 4度/min ファーストスキャン 300度/min SC検出器 エネルギー分解能 60%以下 (CU-Kα) PC検出器 エネルギー分解能 50%以下 (Al-Kα)
利用条件等 粉体は成形してから測定するのが望ましい。 微量の元素はガラス化してから分析する。 定量分析の際は、標準試料が必要となる。 分析対象元素に応じターゲット交換が必要。
担当者 岩船勝敏

蛍光X線分析装置

RIX3000(理学電機)

設置場所 理学部 A棟(3階)
対象試料 珪酸塩岩石試料(珪酸塩鉱物試料)
性能 デュアルX線管球:Rh/W (最大 3 kW, 20-60 kW, 2~100 mA) 分光(結晶)素子:LiF(200), LiF(220), PET, Ge, TAP 検出器:シンチレーションカウンター(SC;重元素用), ガスフロープロポーショナルカウンター(F-PC;軽元素用) 走査範囲:SC(2θ=5°-118°), F-PC(2θ=8°-148°), (停止再現精度±0.0005°以内) 分析可能元素:B-U(原子番号5-92) 定量分析元素:Na, Mg, Al, Si, P, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As,Rb, Sr, Y, Zr, Nd, Ba, La, Ce, Nd, Sm, Er, Yb, Pb, Th 分析方法:定量分析(検量線法), 定性分析(ピーク検索, 同定解析等) 制御およびデーター処理:コンピューター制御(Windows95) 測定試料:1:2希釈ガラスビード法, 1:10希釈ガラスビード法, ペレット法, 1:2希釈
利用条件等 原則として依頼者が事前に予約し、予約当日に試料を持参し試料調製・各種分析を行う。 初めて利用される場合は、事前にご相談下さい。 基本的に珪酸塩岩石(鉱物)試料の分析のみ受け付けますが、下の岩石試料は分析が行えないか、機器に障害をきたす恐れがあるので事前にご相談下さい。 (1) 特殊な化学組成の岩石試料(例えば著しく特定の元素に富んだ岩石試料) (2) 炭酸塩岩石 (3) 硫黄、有機炭素を多く含む岩石試料(堆積岩) (4) H2Oまたは揮発性成分を多く含む岩石試料 (5) 1 g以下の岩石試料
担当者 周藤賢治, 宮下純夫, 志村俊昭, 高澤栄一

結晶構造X線解析システム

RINT2100/PC(理学電機)

設置場所 大学院自然科学研究科 物質生産棟 極限物性実験室 (1階162号室)
対象試料 主に希土類や遷移金属元素の金属間化合物や酸化物
性能 出力2kW X線ラウエカメラ用管球:W(タングステン) 粉末回折用管球:Cu(銅) X線カメラ:背面反射ラウエ法と透過ラウエ法が可能 試料部:クロスゴニオメータヘッド(x,y軸±20°, 水平移動x,y軸±3 mm) X線フィルム:ポラロイドフィルム方式 粉末回折:横型ゴニオメータ, 回転試料台でも使用可 測定角度範囲:-60°から+158° 光学系:自動調整機構を有す 計数直線性:700,000 CPS 測定プログラム(自動調整, 条件設定など) データ処理(スムージング, ピークサーチなど) 定性分析(マッチング, 格子定数の精密化など) 粉末X線構造解析プログラム(リートベルト, フーリエなど)
利用条件等 利用者が事前に予約し、原則として利用者による測定とします。
担当者 根本祐一

複合X線構造解析装置

RASA-7R, R-AXIS IV(理学電機)

設置場所 自然科学研究科管理棟(1階) 大型機器室
対象試料 有機、無機単結晶(0.1~0.5 mm 程度)の試料にX線を照射し、その回折データより、構造の決定を行う。ある程度の重元素が含まれていれば絶対構造も決定できる。
性能 X線発生装置 定格出力:18 kW  ターゲット:Cu, Mo RASA-7R 4軸ゴニオメータ:ユーレリアン クレイドル型 精密測定機能有り 高速測定モード有り 吸収補正有り(ψスキャン測定による吸収補正) R-AXSIS Ⅳ イメージングプレート(IP)サイズ:300 mm×300 mm IP数:2~4枚 IP読み取り方式:光学系回転方式 画素サイズ:200 μ, 100 μ, 50 μ(ブルーIP)の自動選択可能 読み取り時間:20秒 IP消去時間:200 μ=90秒, 100 μ=180秒, 50 μ=240秒 光源:半導体レーザー ダイナミックレンジ:1~10 カメラ長:70~300 mm 吸収補正有り 試料吹き付け低温装置 使用測定温度:-180℃ ~ +200℃ 窒素ガス不要方式(大気中より分離した窒素がスを液化して使用) カーテンガス機構:窒素ガスフロー方式
利用条件等 原則として依頼者が事前に予約し、予約当日に試料を持参して各種の分析を行いますが、事前にご相談ください。
担当者 湯川晴彦

理学電機, R-EXAFS

設置場所 自然科学研究科管理棟 (1階) 大型機器室
対象試料 粉末, 薄膜, 液体など X線の吸収強度の測定を行うため、適切な厚さに成形できるものであれば状態は問わない。
性能 X線源:RU-7A ロータフレックス 40 kV, 450 mA ターゲット Mo, W, フィラメント LaB6, W モノクロメーター:1結晶モノクロメーター 分光結晶:Ge(220), Ge(400), Ge(840)から選択 モノクロ角:30<20θ<120° 検出器:IO ガスカウンター, I シンチレーションカウンター 測定モード:透過測定、実績はないが蛍光測定も可 測定可能元素:Mn~AgのK吸収端。それより重い元素ではL吸収端。 測定時間:1試料あたり約1日 試料サイズ:15 mm角程度, スリットの調整で5 mm角程度も可 試料ホルダー:薄膜・粉末用, 液体用 測定条件:現在のところ室温のみ データ解析:ワークステーション上のソフトにより可 データの格納:フロッピーディスク
利用条件等 測定日時を担当者に予約。 試料が測定可能か、試料の調製法についての相談を事前に行ってください。 装置立ち上げ・調製後の測定およびデータ解析は原則として利用者により行ってください。
担当者 丸山健二

粉末X線回折装置

Geigerflex Rad-X(理学電機)

設置場所 理学部 地質科学教室 X線実験室
対象試料 鉱物・岩石・金属, 合金, セラミックス, 粉体他, 結晶性固体試料
性能 能管球 Cu  1 kW, 2 kW 加速電圧:常用 30 kV~35 kV 管電流:常用 20 mA モノクロメーター付
利用条件等 原則として依頼者が事前に予約し、予約当日に試料を持参して各種の分析を各自で行っていただきます。よって、X線分析ができることを一応の条件とします。 外部からこられて、はじめて利用される場合、X線分析の経験のない方等についてはまえもってよくご相談ください。 次の試料は受付できません。 (1) 危険物:発火や爆発などの恐れのある試料、毒性があり、取り扱いが難しいと思われる試料 (2) 装置故障の原因となる試料 (3) 毒性や感染の恐れのある試料 (4) その他 前処理や分析過程で、装置に障害をきたす恐れのある試料
担当者 小西博巳

波長分散型電子プローブマイクロアナライザー

JXA8600(日本電子)

設置場所 自然科学研究科(1階) EPMA室
対象試料 岩石, 鉱物, 金属, セラミックス, ガラス
性能 分解能:60Å 倍率:×40-300,000(走査倍率) 加速電圧:0.5-50kV(0.5kVステップ) 電子銃:タングステンヘアピン型フィラメント 表示信号:二次電子, 反射電子, 吸収電子, X線 X繰取出角度:42.5° 分光器数:3台 分析元素:B-U(原子記号5-92) 分析モード:定量点分析, 定量線分析, 高速線分析, 高速半定量分析, カラーマッピング(面分析), 状態分析 最大試料寸法:80mmφ
利用条件等 利用者が直接操作すること。
担当者 高澤栄一

温度可変・線顕赤外分光システム

Spectrum GX分光器 顕微鏡装置 AutoIMAGE Lambda 19分光器(Perkin Elmer)

設置場所 大学院自然科学研究科 エネルギー物質・生産棟(6階)
対象試料 透明物質全般, 鉱物, セラミックス, ガラス, 天然・人工繊維類, 樹脂, ポリマー等
性能 分光範囲:赤外領域から紫外領域(170-3200 nm)を2台の分光器使用で吸収スペクトル測定可能 顕微赤外分光:最小面積として1×1 mmのサイズの観測が可能、特定波数ピークの2次元表示(マッピング)可能 観測温度範囲:温度可変顕微鏡ユニットを用い、-196 ℃から1500 ℃という広範囲測定可能、一定温度下および温度変化状態の何れでも測定可能
利用条件等 当初、温度可変ステージが顕微分光器に首尾よく取り付けられないなどの若干の初期不良箇所が見られたが、すでに解決されている。現在のところ正常に作動している。また、両機器とも使用頻度はかなり高い。現在、本システムはすでに複数の研究室が使用している。広範囲に温度可変であり微小部分まで赤外分光が走査測定可能なことを活用すれば、これまで見い出されていなかった物質構造に関連した新知見が、特に境界領域としての応用地球・環境科学方面で得られるように思われる。今後とも、紫外・可視・赤外線分光を含む、広い波長範囲の分光に関して必要性が生じた時には、当システムの共同利用ができる様便宜を諮りたい。 すでに、天然石英中の水酸基の挙動やフラーレンの構造に関する研究に使用されており、得られた研究成果は注目されてきている。
担当者 田山英治

高分解能質量分析システム

ガスクロマトグラフ質量分析計 (GC-TOFMS) JMS-T100GCV (日本電子)

設置場所 農学部B棟(5階) 農学部機器分析室内 (B503)
対象試料 天然有機化合物や合成化合物(高揮発性物質試料)
性能 質量範囲: m/z 4~4000 分解能: R≧6000 (FWHM) 質量精度: 5ppmまたは2mmu 分析計: リフレクトロン型TOFMS(実効飛行距離:約2.0m) イオン加速電圧: 7kV イオン源: EI, FI, FD GC: カラム温度範囲 室温+4~450℃, 昇温 0~120℃/min(20段設定可能)
利用条件等 測定を希望される場合は事前に打ち合わせの上、申込者同席で測定・データ解析を実施。また申込者の方でサンプル調製しGC条件等を確定させた上でご依頼下さい。
担当者 佐藤努

液体クロマトグラフ質量分析計 (LC-TOFMS) JMS-T100LP (日本電子)

設置場所 農学部B棟 (5階) 農学部機器分析室内 (B503)
対象試料 天然有機化合物や合成化合物(溶液状態の試料)
性能 質量範囲: ~10,000 分解能: 6000 (FWHM) 質量精度 :5ppm 分析計: リフレクトロン型TOFMS(実効飛行距離:約2.0m) イオン加速電圧: 7kV イオン源: ESI, APCI, DART HPLC: 流量範囲  0.001~5.0ml/min グラジエント範囲  0~100%(0.1%ステップ設定可能) 恒温槽温度範囲  室温-10~80℃
利用条件等 測定を希望される場合は事前に打ち合わせの上、申込者同席で測定・データ解析を実施。また申込者の方でサンプル調製しHPLC条件等を確定させた上でご依頼下さい。
担当者 佐藤努

フーリエ変換-リニアイオントラップハイブリッド型質量分析計 LTQ Orbitrap XL (Thermo Fischer Scientific)

設置場所 自然科学研究科総合研究棟 (生命環境系) 5階 機器室 (504-2)
対象試料 タンパク質の同定 (ゲル内消化解析, およびショットガン解析) を目的とした解析を対象
性能 ○質量精度 3 ppm (外部標準法), 2 ppm (内部標準法) ○最高分解能 100,000 (FWHM: m/z 400) ○質量範囲 50-2,000; 200-4,000 ○特徴 ・HCD (Higher-energy C-trap dissociation: 高エネルギーCトラップ解離法) collision cell搭載 ・CID (Collision-induced dissociation: 衝突誘起解離), HCDの複数のイオン解離方法が可能 ○基本的なスキャンモード Full Scan, MS/MS Full Scan, Data Dependent Scan, Data Dependent Neutral Loss Scan ○解析ソフト Proteome Discoverer 1.1, Mass Frontier 6.0, SIEVE 1.2.0, PEAKS
利用条件等

サンプル調製は依頼者が、質量分析とデータ解析は分析担当者が行ないます。初めての利用で依頼手順が不明な場合は、分析担当者に連絡願います。

分析担当者の連絡先
白矢:shiraya[at]agr.niigata-u.ac.jp
金古:f08l004a[at]mail.cc.niigata-u.ac.jp
萩野谷:haginoya[at]cc.niigata-u.ac.jp
※[at]を@に置き換えてください

また分析には費用がかかります。2010年度は、生じた消耗品 (カラム, 溶媒, イオンチップなど) の合計金額を、使用回数で割った費用を不定期に請求しますので、予めご了承ください。

担当者 三ツ井敏明

誘導結合プラズマ質量分析計

HP4500(アジレント), LSX-200(CETAC)

設置場所 理学部 C1棟(2階) C1-272号室
対象試料 水溶液, 有機溶液(種類に依存), 固体試料(酸等による分解・溶液化またはレーザーアブレーションによる直接導入)
性能 検出限界:水溶液の場合、元素にもよるが1 ng/ml-1 pg/ml以下 アバンダンス感度:10-6以下
利用条件等 利用者自身による操作を基本とするので、事前に操作講習を受け許可を受けること。 また試料の性状により操作法が異なるので、操作講習の前に相談してください。
担当者 佐藤敬一

高精密ガスクロマトグラフ質量分析計

ITQ700-NR, Exactive-NR (Thermo Fischer Scientific)

設置場所 ITQ700-NR: 理学部C棟306 Exactive-NR: 物質生産棟612
対象試料 有機化合物, 無機化合物を含む揮発性の化合物で溶液試料とできるもの
性能 ITQ700-NR イオン化方法: EIおよびCI法(positive, negative) 質量分析計: イオントラップ型質量分析計 質量範囲: m/z 10 – 700 分解能: 1 M/ΔM スキャン速度: 5,555u/sExactive-NR イオン化法: ESIおよびAPCI法(positive, negative) 質量分析計: 電場型フーリエ変換質量分析計 質量範囲: m/z 50 – 4,000 分解能: 100,000 (FWHM m/z 200 1Hz) 質量精度: <2ppm(内部標準法), <5ppm(外部標準法) スキャン速度: <10Hz
利用条件等 原則として依頼者が測定日を予約し、試料を持参して測定を行います。事前にご相談ください。
担当者 臼井聡(ITQ700-NR), 岩本啓(Exactive-NR)

表面電離型質量分析計

MAT262(Finnigan MAT)

設置場所 自然科学研究科管理棟409号室(平成15年度に生命・環境棟に移動)
対象試料 地球内外にある様々な物質の金属元素の同位体測定が可能である。元素毎に測定条件(イオン化する温度)が異なるので、各元素毎に最適な条件を探す必要がある。 現在は岩石とそれを構成する鉱物のRb、Sr、Nd、Smの同位体分析を中心に測定している。得られたデータを解析し岩石・鉱物の年代、岩石をつくった源物質の解析などに用いている。
性能 加速電圧:最大10 kV 質量数:286迄可。6 kVの時は467まで。 磁場偏向角:90度, 磁場の中心軌道半径:23 cm, 分解能:最高500 コレクター数:Faraday コレクター(1×1011W)5個(1個固定, 8個可変) 2次電子増倍管:1×107W 1個 イオンソース中への試料設置数:13試料 停電時、無停電電源に瞬時に切り替わる測定条件を入れたプログラムを組む事によって全自動測定が可能
利用条件等 原則として利用者による測定とする。但し初心者については測定法を説明する。
担当者 高澤栄一

核磁気共鳴微量構造解析システム

超電導フーリエ変換核磁気共鳴装置 Varian 400-MR型, NMR System700型(Varian)

設置場所 自然科学研究科 物質・生産棟分子構造解析機器室105(1F)
対象試料 有機化合物, 高分子化合物など
性能 400MHz 超電導フーリエ変換核磁気共鳴装置 Varian 400-MR型 磁場強度: 9.4テスラ 観測可能核種: 1H-19F/15N-31P プローブ: 5mm PFG Auto X Dual Broadband Probe (試料管外径:5mm) 分解能: 0.45 Hz以下 (1H) 感度: 1H 250:1, 13C 165:1 温度可変範囲: -80~120 ℃700MHz 超電導フーリエ変換核磁気共鳴装置 Varian NMR System700型 磁場強度: 16.4テスラ 観測可能核種: 15N-31P1{1H} プローブ: 5mm PFG Auto X Dual Broadband Probe (試料管外径:5mm) 分解能: 0.3 Hz以下 (13C) 感度: 1H 500:1, 13C 400:1 温度可変範囲: -80~130 ℃
利用条件等 学内 利用者(利用講習受講済みであること)が事前に予約し、原則として利用者による測定とします。 必要に応じて試料および測定方法などの相談を行って下さい。 学外 依頼分析
担当者 岩船勝敏

透過型分析電子顕微鏡

JEM-200CX(日本電子)

設置場所 理学部 地質科学教室 電子顕微鏡室
対象試料 固体試料
性能 加速電圧:200 kV 線分解能:1.4 Å EDS, 元素分析装置付き, 2軸傾斜装置付き
利用条件等 原則として電顕用試料調整ができ、電子顕微鏡を使える人とし、電顕利用の経験のない方、外部からこられて、はじめて利用される場合、等についてはまえもってよくご相談ください。 次の試料については扱えません。 (1) 危険物:発火や爆発などの恐れのある試料、毒性があり、取り扱いが難しいと思われる試料 (2) ガスが発生するなど、装置故障の原因となる試料 (3) 毒性や感染の恐れのある試料 (4) その他 前処理や分析過程で、装置に障害をきたす恐れのある試料
担当者 小西博巳

微細加工半導体特性評価システム

セミオートマティックステーションR6172(カスケードマイクロテック); レーザー透過型顕微鏡(ニコン); Nd:YAGレーザー(New Wave, 特注品)

設置場所 理学部 A棟 419号室 (4階)
対象試料 半導体(シリコン他)
性能 構成:光/電気シールドケース及び温度制御可能なチャックを含むプローバー装置に、顕微鏡と信号源/配線等のカッターとなるレーザーが取り付けられたものである。 1. レーザー サイズ:8インチ用 顕微鏡:全波長に対して使用可能、100倍のレーザー透過型対物 レンズにより1 μmの構造が観察可能 高解像度CCDカメラ及びモニター 3軸方向に可動 位置決定精度:全領域において±2 μm 位置再現精度:全領域において±1 μm 位置設定:PCによる半自動設定 電磁シールド:プローブの位置は電磁シールドされている 温度制御:チャックは温度制御されている 温度範囲:-50℃以下~+100℃以上 温度精度:±0.5℃以内 湿度制御:空気乾燥機で結露を防止 防振台2. レーザー Nd:YAGレーザー パルス:パルス幅10 ns未満、外部トリガー可能、10 Hz以上が可能 波長:2 mJ@266 nm, 4 mJ@355 nm, 10 mJ@532 nm, 20 mJ@1064 nm/パルス ビーム径:レーザー出口で3 mm以内 ビームの広がり:レーザー出口で3 mrad以内 スポットサイズ:2 μm2以下, スポット位置を顕微鏡及びモニターで確認できる 低雑音 光量:本体での光量調節とNDフィルターの併用により、半導体素子の加工(カッティング)から光信号の測定まで広範囲での利用が可能。
利用条件等 このシステムは半導体の性能評価及び加工のために極めて優れた性能を有していますので、できるだけ多くのユーザーに御利用頂きたいと考えております。 非常に精密な装置であることなどから下記の条件は付けざるを得ませんが、それにあう方には大いに利用して頂きたいと考えております。(合うかどうかが不明な方は、取りあえずご相談ください。) 利用目的及び方法などが、広い意味でのこの装置設置の趣旨に沿うこと 日程や利用法が当研究室固有の研究と抵触しないこと 原則として成果は公開すること 消耗品費及び旅費等は自己で負担すること なお外部の方に御利用頂く場合、その測定のための(計算機を含む)当研究室所有の周辺 測定機器の利用に関しても可能な範囲内で考慮しますので、ご相談下さい。
担当者 田村詔生, 宮田等, 川崎健夫

電子線マイクロアナライザー

EPMA-1610 (島津)

設置場所 医学部共同研究棟2階 207
対象試料 金属, 合金, セラミックス, 岩石標本, 粉体, 膜, 樹脂, ガラス, 半導体,生体材料, 生体薄切標本, 植物試料(十分乾燥したもの), 植物薄切標本など
性能 分解能: 5 nm 倍率: ×20~400,000 加速電圧: 0~30 kV (0.5 kVステップ) 電子銃: Wフィラメント, CeBixカソード 表示信号: 二次電子, 反射電子, 吸収電子, X線 X線取出角度: 52.5° 分光器数: 5台(一般元素用3台, 軽元素用2台 (フッ素・酸素専用, 窒素専用分光結晶付属)) 分析元素: B~U(原子番号5~92) 分析モード:点分析, 線分析, 高速半定量分析, 定量分析, 面分析, 高速マッピング分析, 状態分析, エアロビュウ 最大試料寸法: 100 mmφ×50 mm 最大資料重量: 2 kg 試料装填数: 25.4 mmφ×6個, 32 mmφ×6個, 10 mmφ×30個
利用条件等 初めて利用される場合は、試料の前処理などを事前にご相談ください。 水分を含んだ試料は、十分乾燥してください。 次の試料は受付できません。 (1)危険物 発火や爆発などの恐れのある試料 毒性があり、取り扱いが難しいと思われる試料 (2)装置故障の原因となる試料 放射性物質(信号検出等に支障を来します。) 熱に弱く揮発成分を発生しやすい試料(装置内を汚染します。) 強磁性体(電子線が不安定となります。) (3)毒性や感染の恐れのある試料 細菌やウイルスなどの感染が疑われる生体組織 滅菌処理されていない生体組織及び関連する試料など (4)その他 前処理や分析過程で、装置に障害をきたす恐れのある試料
担当者 大島勇人

卓上型X線回折装置

Bruker, D2 Phaser

設置場所 自然科学研究科棟 クリーンルーム (1階)
対象試料 鉄鋼, 非金属, セラミックス, 粘土, 鉱石, 高分子材料など
性能 最大定格出力30 kV-10 mA, セラミックス封入型X線管球 Cu ゴニオメータ:試料水平型, θ-θゴニオメータ 測定角度範囲: -3 ~ 160° 検出器: 1次元半導体高速検出器 LYNXEYE
利用条件等 最大試料サイズ: φ50mm(直径) 試料ホルダー1: 試料部φ25mm, 1mm深さ 試料ホルダー2: 試料部φ40mm, 6mm深さ 試料ホルダー3: 無反射板 サイズの大きな試料は成形する必要有り。
担当者 古川貢, 岩船勝敏

利用方法

  1. 学内利用
    予約システムからお申し込み下さい。
  2. 学外利用
    学外の利用者は、ご希望の分析内容を明記のうえご利用相談窓口まで電子メールにて相談下さい。

ご利用相談窓口

共用設備基盤センター 設備戦略企画室