機器・装置一覧

透過電子顕微鏡(JEOL JEM-2010)

JEOL-2010 TEMは、LaB6 電子銃を搭載した高分解能分析電子顕微鏡であり、鉱物、金属、無機化合物、セラミックス、薄膜、ナノマテリアルなどを低倍率から高倍率で、明視野像、暗視野像を観察でき、観察像に対応した電子線回折(制限視野電子線回折)を得ることができる。また、結晶格子像、構造像、収束電子回折(CBED)が得られる。

TEMには、EDS(エネルギー分散型X線分析装置)が付属しており、CからThまでの元素分析が行える。また、STEM(走査像観察装置)が付属しており、低倍率であればSTEM観察が行える。

ほとんどのユーザーは、加速電圧200kVで無機物質の測定に利用しているが、80kVで生物試料を観察することもできる。

特徴

  • LaB6 電子銃搭載。80 and 200kVまででの操作が可能。
  • 点分解能 0.19 nm
  • 試料ホルダー:一軸傾斜と二軸傾斜ホルダー
  • CからThまでのEDS元素分析
  • ネガティブフィルムによる記録
管理者 小西博巳
問い合わせ 小西博巳 メールアドレス:hkonishi [at] geo.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 理学部A1棟1階 電子顕微鏡室

電子線マイクロアナライザ(SHIMAZU EPMA1720 HT)

電子線マイクロアナライザ(EPMA)は細く絞った電子線を試料の表面に照射し、試料から発生する特性X線の波長と強度を検出することで、1μm以下の極微小領域の組成分析を行う装置である。電子線を試料表面でスキャニングすることで、試料から発生する二次電子を画像化したSEM像が得られ、光学顕微鏡画像と合わせて試料の表面観察が行える。反射電子検出器も搭載しており、反射電子線像(BSE)が得られる。マッピングによって各元素の濃度分布を視覚的にとらえることができる。また、標準試料を用いることで、定量分析を行うこともできる。

管理者 山城秀昭
問い合わせ 山城秀昭 メールアドレス:hyamashiro [at] agr.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 農学部B棟2階 B218

粉末X線回折装置(Rigaku Ultima IV)

Ultima IV は X線源と検出器軸が駆動する試料水平型のX線回折装置であり、粉末、固体、薄膜の測定ができる。クロスビームオプティクス(Cross Beam Optics)と名付けられた人工多層膜ミラーを用いた光学系を採用しており、平行ビーム法と集中法を簡単に切り替えることができる。

検出器にはシンチレーションカウンターを使用し、X線源の最大出力は2kW、実験での使用電圧および管電流は 40 kV 40 mAである。電動で、発散スリット、発散縦制限スリット、散乱スリット、受光スリットを調整することができる。

データ解析には、PDXL2、データベースには、PDF-2が準備されている。試料ホルダーとして、ガラス製のホルダーの他、Siの低バックグラウンドホルダーが使用できる。また、10試料自動交換装置 (ASC-10)により、10試料の連続測定が可能である。

特徴

  • 管球Cu
  • 測角範囲:2θ=0~162°
  • 通常測定のステップサイズ 0.02°(最小のステップサイズ 0.0001°)
  • グラファイト結晶を用いたモノクロメーター
  • 多目的試料高温装置
管理者 小西博巳
問い合わせ 小西博巳 メールアドレス:hkonishi [at] geo.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 理学部A1棟1階 電子顕微鏡室

顕微ラマン分光計(日本分光 NRS-3000)

顕微鏡観察用の岩石薄片の微小部や、スライドガラスに載せた微小な鉱物片などにレーザーを照射して、発生したラマン散乱光から物質の種類や状態を調べる装置である。顕微ラマンを用いることにより、岩石薄片の装置の光学顕微鏡で微小部を確認したうえで、鉱物や包有物が何であるかを非破壊で調べることができる。また、ポリモーフ(polymorph)も識別できる場合がある。

特徴

  • 光源:固体レーザ(波長は532nm)
  • 測定波数範囲(ラマンシフト値):50-8,000cm-1
  • 分解能:1cm-1/ピクセル
  • グレーティング:1,800gr/mm
  • CCD:1024 x 128 pixel CCD
  • レイリーフィルター:ノッチフィルター
  • ビームスプリッター使用
管理者 小西博巳
問い合わせ 小西博巳 メールアドレス:hkonishi [at] geo.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 理学部A棟4階 A405

レーザーラマン分光計(JASCO NR-1100/RMP-510)

特徴

レーザー光照射により試料からの散乱光強度を分光測定し、試料を構成する分子の振動情報を含むRamanスペクトルを得ることができます。ダブルモノクロメータ分光器とPM検出器(NR-1100)またはシングルモノクロメータ分光器とCCD検出器(RMP-510)が利用できます。分子の構造解析や相対的な化学種濃度を決定できます。

管理者 梅林泰宏
問い合わせ 梅林泰宏 yumescc [at] chem.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 物質生産棟256

FT-Raman/IR分光計(JASCO RFT-6000/FT-IR-6600)

特徴

試料を透過した赤外(IR)光強度をフーリエ変換分光測定し、試料を構成する分子の振動情報を含むIRスペクトルが得ることができます。液体試料は透過法および減衰全反射(ATR)法で測定します。また、近赤外光励起のRaman分光も可能で強く着色した試料のRaman測定に適します。分子の構造解析や相対的な化学種濃度を決定できます。

管理者 梅林泰宏
問い合わせ 梅林泰宏 yumescc [at] chem.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 物質生産棟256

真空蒸着装置(JEOL JEE-400)

カーボン棒を互い接触させ真空中で加熱することで蒸発させ、透過電子顕微鏡や走査電子顕微鏡の観察試料にカーボン被膜を作ることができる。また、高融点であるタングステンなどのバスケットに通電し発熱させ、Auなどの金属を蒸発させ、被膜をつくることができる。

管理者 小西博巳
問い合わせ 小西博巳 メールアドレス:hkonishi [at] geo.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 理学部A1棟4階 A403

イオン研磨装置(PIPS model 691)

グラインダーで機械的に研磨して薄くした試料(厚さ~30μm)にアルゴンイオンを当て、原子をはじき出すこと(スパッタリング)により試料表面を削り、透過電子顕微鏡観察の試料を作る装置である。イオンガンの傾斜は試料面に対して4度に固定されている。

管理者 小西博巳
問い合わせ 小西博巳 メールアドレス:hkonishi [at] geo.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 理学部A1棟4階 A1429

ウルトラミクロトーム(REICHERT Ultracut S)

透過電子顕微鏡観察に必要な超薄切片の作製や、走査電子顕微鏡観察に必要な断面の作製に用いる。ウルトラミクロトームで切断する試料は、樹脂封入したブロックをカミソリ刃でトリミングして作成する。ウルトラミクロトームでの切断には、ダイヤモンドナイフを使用する。生物試料の超薄切片の作製に用いることが多いが、粘土鉱物などの無機物質でも、微小で固くなければ、超薄切片を作製することができる。ダイヤモンドナイフは、ユーザーが各自購入する必要がある。

管理者 杉山稔恵
問い合わせ 杉山稔恵 sugiyama [at] agr.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 管理共通棟2階 電子顕微鏡室

ガラスナイフメーカー(REICHERT Knifemaker)

ウルトラマイクロトームで使うガラスナイフを作る装置。

管理者 杉山稔恵
問い合わせ 杉山稔恵 sugiyama [at] agr.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 管理共通棟2階 電子顕微鏡室

高周波数帯域誘電緩和分光計(Agilent PNA-L N5234A)

誘電率の周波数依存性である複素誘電率を10 MHz~43.5 GHzの高周波数帯域の測定します。液体試料では極性分子の双極子再配向の緩和時間が決定できます。

管理者 梅林泰宏
問い合わせ 梅林泰宏 yumescc [at] chem.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 管理共通棟312

低周波数帯域誘電緩和分光計(Rohde & Schwarz ZNC3)

誘電率の周波数依存性である複素誘電率を9 kHz~3 GHzの低周波数帯域の測定します。液体試料では極性分子の双極子再配向の緩和時間が決定できます。

管理者 梅林泰宏
問い合わせ 梅林泰宏 yumescc [at] chem.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 管理共通棟312

紫外可視分光光度計(Ubest V-530)

溶液試料の波長190nm–1100nmの吸収スペクトルを測定できる。光源には、紫外部用に重水素ランプ(190nm–350nm)と可視赤外部用としてハロゲンランプ(340nm–1100nm)を使用している。溶液中の物質の定量分析ができる。混合物中の特定物質の定量が可能なので、化学反応の平衡定数および速度定数の測定に利用できる。

管理者 長谷川英悦
問い合わせ 村田友輝 ymurata [at] ad.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 物質生産棟 612

蛍光分光光度計(RF-5300PV)

溶液試料の220nm–750nmの蛍光スペクトルを測定できる。光源には、キセノンランプを使用している。励起スペクトルの測定ができるので、吸収スペクトルとの照合により、蛍光放出する励起状態を推定できる。異なる濃度の物質存在下での蛍光強度変化を測定することにより傾向性励起状態とその物質間の相互作用を推定できる(蛍光消光)。

管理者 長谷川英悦
問い合わせ 村田友輝 ymurata [at] ad.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 物質生産棟 612

赤外分光光度計(日本分光 FT/IR4600)

赤外線照射により振動回転スペクトルを測定する分光光度計であり、有機化合物や金属錯体のほか、繊維や粉末など様々な試料に含まれる化合物の結合と構造に関する情報を手にすることができる。

管理者 俣野善博
問い合わせ 村田友輝 ymurata [at] ad.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 物質生産棟 612

絶対PL量子収率測定装置(浜松ホトニクス Quantaurus QY)

可視光・近赤外光照射により生じる励起状態からの発光の絶対量子収率や発光スペクトルを測定する装置であり、有機化合物や金属錯体など様々な試料に関して、溶液や個体中の発光過程に関する情報を手にすることができる。

管理者 俣野善博
問い合わせ 村田友輝 ymurata [at] ad.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 物質生産棟 612

大型遠心機(日立 CR-22E)

冷却付きの大型遠心機です。試料の分離・回収に使用します。ローターはRA10A2 (max 10,000 rpm, 16,200xg, 50 mlx 12, 15 mlx 12)とR14A(Max 14,000 rpm, 30,240xg, 250 ml 4本)の2種類があります。

管理者 中馬吉郎
問い合わせ 村田友輝 ymurata [at] ad.sc.niigata-u.ac.jp ※[at]を@に置き換えてください
場所 理学部C棟C327

 

ご利用相談窓口

共用設備基盤センター 設備戦略企画室